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HAST及PCT試驗(yàn)箱JESD22試驗(yàn)方法說明

2022-04-22 18:12:11 komeg1990

HAST及PCT試驗(yàn)箱JESD22試驗(yàn)方法說明

HAST/PCT試驗(yàn)說明

JESD22-A101,JESD22-A102,JESD22-A110JESD22-A118

恒溫恒濕試驗(yàn)箱

HAST高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)

1.JESD22-A101-C:穩(wěn)態(tài)溫度,濕度/偏壓,壽命試驗(yàn)(溫濕度偏壓壽命)

試驗(yàn)條件包括:溫度,相對(duì)濕度,和元件加偏壓的時(shí)間

常用測試條件:85℃±2/85%R.H±5/7.12psia(49.1kpa)/8mA/1000h

恒溫恒濕試驗(yàn)箱

本方法用于評(píng)估非氣密性封裝IC器件在濕度環(huán)境下的可靠性,通過溫度/濕度/偏壓條件應(yīng)用于加速濕氣的滲透,同時(shí)需要維持一個(gè)規(guī)定的溫度和相對(duì)的持續(xù)濕度在規(guī)定偏壓電路來測試提供電子連接元件。

(評(píng)估非密封封裝的固態(tài)設(shè)備在高溫高濕條件下的運(yùn)行可靠性,同時(shí)也能加速評(píng)估是否水霧能滲透穿過外部保護(hù)密封材料或是沿著外部保護(hù)材料和金屬導(dǎo)體之間的接口進(jìn)入內(nèi)部。)


2.JESD22-A110 :HAST高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)

常用測試條件:130℃±2/85%R.H±5/33.3psia(230kpa)96h和110℃±2/85%R.H±5/17.7psia(122kpa)264h

恒溫恒濕試驗(yàn)箱


3.JESD22-A118:溫濕度無偏壓高加速應(yīng)力實(shí)驗(yàn)UHAST(無偏置電壓未飽和高壓蒸汽)

試驗(yàn)條件包括:溫度,相對(duì)濕度,蒸汽壓力和時(shí)間

 

執(zhí)行無偏 HAST 是為了評(píng)估非密封封裝的可靠性,潮濕環(huán)境中的固態(tài)器件。這是一個(gè)高度加速的測試,采用溫度和非冷凝條件下的濕度,以加速水分通過外部滲透保護(hù)材料(密封劑或密封)或沿外部保護(hù)材料與穿過它的金屬導(dǎo)體。 在此測試中不應(yīng)用偏壓以確保故障機(jī)制可能會(huì)被偏差掩蓋(例如,電偶腐蝕)。 該測試用于識(shí)別封裝內(nèi)部的失效機(jī)制,具有破壞性。

(芯片處于密閉空間內(nèi)高溫、高濕、高壓的加速因子下,以實(shí)驗(yàn)封裝的抗腐蝕能力,確定其可靠性。)

常用測試條件:130℃±2/85%R.H±5/33.3psia230kpa96h264h)和110℃±2/85%R.H±5/17.7psia122kpa264h96h)樣品數(shù)25ea/lot , 3lots

 

4.JESD22-A102-E:PCT高壓蒸煮試驗(yàn)

試驗(yàn)條件包括:溫度,相對(duì)濕度,蒸汽壓力和持續(xù)時(shí)間。

本方法用于評(píng)估非氣密性封裝IC器件在濕度環(huán)境下的可靠性。溫度/濕度/偏壓條件應(yīng)用于加速濕氣的滲透,可通過外部保護(hù)材料(塑封料或封口),或沿著外部保護(hù)材料與金屬傳導(dǎo)材料之間滲透。

 

5.JESD22-A102-D:PCT無偏壓高壓加速抗?jié)裥栽囼?yàn)

試驗(yàn)條件包括:溫度,相對(duì)濕度,蒸汽壓和時(shí)間。

本方法用于耐濕性評(píng)估和強(qiáng)健性測試。目的在于用壓縮濕氣和飽和濕氣環(huán)境下,評(píng)估非氣密性封裝固態(tài)元件的抗?jié)裥浴T诟邏骸⒏邼駰l件下加速濕氣滲透(塑封料、芯片鈍化層)或設(shè)計(jì)變更(芯片、觸電尺寸)與金屬導(dǎo)電層間界面的滲透,從而識(shí)別封裝內(nèi)部的失效機(jī)制,是破壞性的。

常用測試條件:121℃±2/100%R.H/29.7psia(205kpa)/24h,48h,96h,168h,240h,336h

 

執(zhí)行試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T2423.40-1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法Cx:不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱

IEC60068-2-66-1994環(huán)境試驗(yàn).第2-66部分:試驗(yàn)方法.試驗(yàn)Cx:穩(wěn)態(tài)濕熱

JESD22-A100循環(huán)的溫度和濕度偏移壽命

JESD22-A101穩(wěn)態(tài)溫度,濕度/偏壓,壽命試驗(yàn)(溫濕度偏壓壽命)

JESD22-A102高壓蒸煮試驗(yàn)(加速抗?jié)裥詽B透)

JESD22-A108溫度、偏置電壓和工作壽命

JESD22-A110 HAST高加速溫濕度應(yīng)力試驗(yàn)

JESD22-A118溫濕度無偏壓高加速應(yīng)力實(shí)驗(yàn)UHAST(無偏置電壓未飽和高壓蒸汽)



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